SEL繼電器全稱為施密特電力繼電器(SchweitzerEngineeringLaboratoriesRelay)，是一種廣泛應(yīng)用于電力系統(tǒng)的保護(hù)設(shè)備。它是由美國施密特工程實(shí)驗(yàn)室(SchweitzerEngineeringLaboratories,Inc.)設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的，具有高可靠性和高性能的特點(diǎn)，被廣泛用于保護(hù)和控制電力系統(tǒng)中的設(shè)備和線路。SEL繼電器主要用于監(jiān)測電力系統(tǒng)中的故障，并在故障發(fā)生時(shí)通過斷開電源或觸發(fā)保護(hù)動作來保護(hù)電力設(shè)備免受損害。它能夠?qū)﹄娏鳌㈦妷汉皖l率等參數(shù)...

臺式納米壓痕儀是一種常用的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，用于測試材料的硬度、彈性模量和抗變形性能等指標(biāo)。它的使用方法如下：首先，將臺式納米壓痕儀放置在平穩(wěn)的實(shí)驗(yàn)臺上，并確保儀器的穩(wěn)定性和水平度。接著，準(zhǔn)備待測試的樣品。樣品應(yīng)保持干凈，并盡量避免受到污染和損傷。如果需要，可將樣品切割成所需的尺寸和形狀。根據(jù)測試要求，選擇一個(gè)合適的壓頭。臺式納米壓痕儀通常配備多種不同硬度和形狀的壓頭，根據(jù)樣品的特性和測試目的選擇相應(yīng)的壓頭。接下來，將壓頭安裝在儀器上。按照儀器的操作說明，將所選的壓頭固定在壓痕儀的頭...

離子束沉積系統(tǒng)(IonBeamDepositionSystem)是一種用于制備薄膜材料的高級實(shí)驗(yàn)室設(shè)備。該系統(tǒng)利用離子束將材料原子或分子沉積在基板表面上，以制備具有特定物理和化學(xué)性質(zhì)的薄膜。在使用離子束沉積系統(tǒng)時(shí)，需要注意以下幾點(diǎn)：1.安全操作離子束沉積系統(tǒng)通常涉及高電壓、高真空和高能量離子束等危險(xiǎn)因素，因此必須采取嚴(yán)格的安全措施。操作人員應(yīng)熟悉系統(tǒng)的操作程序，并穿戴適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)服和手套等裝備。2.適當(dāng)?shù)恼婵斩入x子束沉積系統(tǒng)的沉積過程需要在高真空環(huán)境下進(jìn)行，否則會影響薄膜的品質(zhì)...

離子束沉積是一種重要的表面修飾技術(shù)，能夠在材料表面形成致密、均勻和高質(zhì)量的薄膜。為了確保離子束沉積系統(tǒng)的正常運(yùn)行和長期使用，需要進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)。首先，定期檢查離子束沉積系統(tǒng)的各個(gè)部件，包括真空室、離子源、樣品架等，確保它們沒有受損或存在任何異常情況。檢查后必須及時(shí)修理或更換故障的部件，以避免影響沉積質(zhì)量。其次，保持離子束沉積系統(tǒng)的清潔和干燥。在使用過程中，應(yīng)該及時(shí)清除真空室內(nèi)的灰塵和雜物，定期使用干凈的布或吸塵器進(jìn)行清潔。此外，也需要保持真空室內(nèi)的濕度低于50%，避免對沉積薄膜...

離子束沉積作為納米結(jié)構(gòu)的基本組成單元，團(tuán)簇或納米顆粒在納米科學(xué)中具有關(guān)鍵的地位。我們設(shè)計(jì)研制了兩套氣體聚集型團(tuán)簇源：基于熱蒸發(fā)的氣體聚集團(tuán)簇束流源和磁控等離子體聚集型團(tuán)簇源。以團(tuán)簇源為中心構(gòu)成了團(tuán)簇束流實(shí)驗(yàn)和沉積系統(tǒng)。在此基礎(chǔ)上我們開發(fā)了一系列金屬、合金、氧化物、氮化物納米粒子束流的制備流程。涉及的材料包括：Ag、Al、Pb、Sn、Pd、Cr、V、Tb、Fe、Cu等純金屬團(tuán)簇及其合金團(tuán)簇，C、Si、Ge、InSb、Te等非金屬團(tuán)簇，SnO、CrO2、VO2、SiOx等氧化物團(tuán)...

三維光學(xué)輪廓測量儀是利用光學(xué)顯微技術(shù)、白光干涉掃描技術(shù)、計(jì)算機(jī)軟件控制技術(shù)和PZT垂直掃描技術(shù)對工件進(jìn)行非接觸測量，還原出工件3D表面形貌宏微觀信息，并通過軟件提供的多種工具對表面形貌進(jìn)行各種功能參數(shù)數(shù)據(jù)處理，實(shí)現(xiàn)對各種工件表面形貌的微納米測量和分析的光學(xué)計(jì)量儀器。三維光學(xué)輪廓測量儀只需操作者裝好被測工件，在檢定軟件上設(shè)定物鏡倍率和測量模式后點(diǎn)擊“開始”按鈕，光學(xué)物鏡會對工件表面進(jìn)行自動對焦和非接觸掃描，并按設(shè)定的位置進(jìn)行測量，軟件界面會實(shí)時(shí)掃描物體宏微觀表面形貌;掃描結(jié)束后...

納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試?？苫Q的驅(qū)動器能夠提供大動態(tài)范圍的力荷載和位移，使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出精確及可重復(fù)的測試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損測試以及高溫測試。微納米壓痕儀(高溫)通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和...

掃描熱學(xué)顯微鏡也是依靠原子力顯微鏡的成像模式，即熱導(dǎo)電率通過樣品表面使圖片發(fā)生改變的形式完成的。同其他模式(橫向力顯微鏡，磁力顯微鏡，靜電力顯微鏡等)，掃描力顯微鏡在獲得數(shù)據(jù)的同時(shí)能夠接收圖像方面的數(shù)據(jù)。這種掃描模式的制作是用靠近納米加工熱探針針尖頂部的電阻元件來代替標(biāo)準(zhǔn)的接觸模式懸臂來實(shí)現(xiàn)的。這個(gè)電阻與惠斯通電橋的電路的一端合并，從而允許系統(tǒng)來控制阻力。該阻力與探針尾部的溫度相關(guān)，惠斯通電橋也許就是被設(shè)計(jì)來一方面探測樣品的溫度，另一方面用來描繪樣品熱導(dǎo)電率的質(zhì)量圖。樣品溫度...