產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
Lumina光學表面缺陷分析儀
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
article
相關(guān)文章這款XRD設(shè)備是由美國NASA用于火星探測目的研制。2009年正式軍用轉(zhuǎn)民用,榮獲了2010年美國宇航局大獎,被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、材料、石油化工、醫(yī)藥、環(huán)保等等行業(yè)而聞名業(yè)界,能提供多款性能可靠的分析檢測儀供選擇以滿足用戶的分析需求。
更新時間:2024-06-17
產(chǎn)品型號:INNOV-X terra /BTX
瀏覽量:2369
Element 能量色散譜 (EDS) 系統(tǒng)為一款緊湊裝置,分析能力十分強大,可極大限度提升性能和靈活性,同時提供簡化操作以確保快速獲得結(jié)果且易于使用。它專注于工業(yè)市場,而在工業(yè)市場中需要快速準確地解決產(chǎn)品應(yīng)用問題。Element 硅漂移探測器 (SDD) 與用戶友好型 APEX™ 軟件相結(jié)合,為各種分析和高產(chǎn)率工業(yè)應(yīng)用帶來了EDAX能譜儀與市場上Joel、FEI、蔡司、日立等所有電鏡都可以匹配。
更新時間:2025-09-26
產(chǎn)品型號:Element
瀏覽量:9799