 
    技術文章
Technical articles 熱門搜索:
    
    
      Element美國EDAX能譜儀
    
      EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
    
      TEM氮化硅薄膜窗口
    
      NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
    
    
    
      Zeta-20三維光學輪廓儀
    
      主動隔振臺ARISTT
    
      石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
    
      P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
    
    
    
      iNano高精度臺式納米壓痕儀
    
      PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯用系統
    
      P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
    
      納米團簇束流沉積系統
    
    
    
      Lumina光學表面缺陷分析儀
    
      Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
    
      Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
    
      納米壓印膠
熱門搜索:
    
    
      Element美國EDAX能譜儀
    
      EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
    
      TEM氮化硅薄膜窗口
    
      NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
    
    
    
      Zeta-20三維光學輪廓儀
    
      主動隔振臺ARISTT
    
      石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
    
      P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
    
    
    
      iNano高精度臺式納米壓痕儀
    
      PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯用系統
    
      P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
    
      納米團簇束流沉積系統
    
    
    
      Lumina光學表面缺陷分析儀
    
      Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
    
      Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
    
      納米壓印膠
    
    三維光學輪廓儀對各種產品,部件和材料的表面輪廓,粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析的精密儀器。下面讓我們一起來了解一下三維光學輪廓儀的主要功能吧:1、共聚焦共聚焦技術可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學顯微鏡有更高的橫向分辨率,可達0.10um。利用它可實現臨界尺寸的測量。當用150倍、0.95數值孔徑的鏡頭時,共聚焦在光滑表面測量斜率達70°(粗糙表面達86°)。共聚焦算法保證Z...
 
                    光學輪廓儀是以白光干涉技術原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。三維光學輪廓儀是對物體的輪廓、三維尺寸、三維位移進行測試與檢驗的儀器,作為精密測量儀器在汽車制造和鐵路行業的應用十分廣泛。是通過儀器的觸針與被測表面的滑移進行測量的,是接觸測量。其主要優點是可以直接測量某些難以測量到的零件表面,如孔、槽等的表面粗糙度,又能直接按某種評定標準讀數或是描繪出表...
 
                    高精度輪廓儀能描繪工件表面波度與粗糙度,并給出其數值的儀器,采用精密氣浮導軌為直線基準。輪廓測試儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進行測試與檢驗的儀器,作為精密測量儀器在汽車制造和鐵路行業的應用十分廣泛。輪廓儀是一種兩坐標測量儀器,儀器傳感器相對被測工件表而作勻速滑行,傳感器的觸針感受到被測表而的幾何變化,在X和Z方向分別采樣,并轉換成電信號,該電信號經放大和處理,再轉換成數字信號儲存在計算機系統的存儲器中,計算機對原始表而輪廓進行數字濾波,分離掉表而粗糙度成分后再進行計算...
 
                    三維光學輪廓儀檢測設備主要對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。三維光學輪廓儀檢測設備是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器,主要對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。下面讓我們一...
 
                    納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試,測試結果通過力與壓入深度的曲線計算得出,無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。下面讓我們一起來了解一下微納米壓痕儀的主要功能吧:1.連續剛度測量(CSM)CSM技術包括在壓痕過程中測量力學性能隨深度、力、時間或頻率變化的函數。該方案采用恒定應變速率試驗,測量硬度和模量作為深度或載荷的函數,是學術界和工業界常用的試驗方法。CSM還用于其他高級測試,包括用于存儲和損耗模量測量的ProbeDMA™方法和AccuFilm&t...
 
                    高精度原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式,非接觸模式和敲擊模式。1、接觸模式從概念上來理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣,AFM在整個掃描成像過程之中,探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸,而相互作用力是排斥力。掃描時,懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結構,因此力的大小范圍在10-10~10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力,便不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。2、非接觸模...
 
                    高精度原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測,當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時,檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像,一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求,不需要對樣品進行特殊處理,僅在大氣環境下就...
 
                    光學元件在各個領域都有廣泛應用,對光學元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測光學元件的加工精度,從而用于優化加工方法,保證最終元器件的性能指標,是光學元件加工領域的關鍵問題之一。光學元件的加工精度包括表面質量和面型精度,這些參數會影響其對光信號的傳播,進而影響最終器件的性能。此外,各種新型光學元件也需要檢測其表面輪廓,比如非球面,衍射光學元件,微透鏡陣列等。除了最終光學元件的加工精度以外,各種光學元件加工工藝也需要檢測中間過程的三維形貌以保證最終產品的精度,包括注塑、...
